4XC-W कम्प्युटर मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोप सिंहावलोकन
4XC-W कम्प्युटर मेटलर्जिकल माइक्रोस्कोप एक ट्राइनोकुलर इन्भर्टेड मेटलर्जिकल माइक्रोस्कोप हो, उत्कृष्ट लामो फोकल लम्बाइ योजना अक्रोमेटिक उद्देश्य लेन्स र दृश्य योजना आईपिसको ठूलो क्षेत्र।उत्पादन संरचनामा कम्प्याक्ट, सुविधाजनक र सञ्चालन गर्न सहज छ।यो मेटालोग्राफिक संरचना र सतह आकार विज्ञान को सूक्ष्म अवलोकन को लागी उपयुक्त छ, र धातु विज्ञान, खनिज, र सटीक ईन्जिनियरिङ् अनुसन्धान को लागी एक आदर्श उपकरण हो।
अवलोकन प्रणाली
Hinged अवलोकन ट्यूब: दूरबीन अवलोकन ट्यूब, समायोज्य एकल दृष्टि, लेन्स ट्यूब को 30° झुकाव, आरामदायक र सुन्दर।त्रिनोकुलर दृश्य ट्यूब, जुन क्यामेरा उपकरणमा जडान गर्न सकिन्छ।आईपीस: WF10X ठूलो फिल्ड प्लान आईपिस, φ18mm को दृश्य दायराको क्षेत्र सहित, फराकिलो र समतल अवलोकन ठाउँ प्रदान गर्दछ।
मेकानिकल चरण
मेकानिकल मुभिङ स्टेजमा बिल्ट-इन घुमाउन मिल्ने गोलाकार स्टेज प्लेट हुन्छ, र ध्रुवीकृत प्रकाश माइक्रोस्कोपीको आवश्यकताहरू पूरा गर्न ध्रुवीकृत प्रकाश अवलोकनको क्षणमा गोलाकार स्टेज प्लेट घुमाइन्छ।
प्रकाश प्रणाली
कोला इल्युमिनेशन विधि प्रयोग गरेर, एपर्चर डायाफ्राम र फिल्ड डायाफ्राम डायलद्वारा समायोजित गर्न सकिन्छ, र समायोजन सहज र सहज छ।वैकल्पिक ध्रुवीकरणकर्ताले विभिन्न ध्रुवीकरण अवस्थाहरूमा माइक्रोस्कोपिक छविहरू अवलोकन गर्न 90° द्वारा ध्रुवीकरण कोण समायोजन गर्न सक्छ।
निर्दिष्टीकरण
| निर्दिष्टीकरण | मोडेल | |
| वस्तु | विवरणहरू | 4XC-W |
| अप्टिकल प्रणाली | परिमित विकृति सुधार अप्टिकल प्रणाली | · |
| अवलोकन ट्यूब | हिंगेड दूरबीन ट्यूब, 30° झुकाव;trinocular ट्यूब, समायोज्य interpupillary दूरी र diopter। | · |
| आईपीस (दृश्यको ठूलो क्षेत्र) | WF10X(Φ18mm) | · |
| WF16X(Φ11mm) | O | |
| WF10X(Φ18mm) क्रस डिभिजन रुलरको साथ | O | |
| मानक उद्देश्य लेन्स(लामो थ्रो योजना अक्रोमेटिक उद्देश्यहरू) | PL L 10X/0.25 WD8.90mm | · |
| PL L 20X/0.40 WD3.75mm | · | |
| PL L 40X/0.65 WD2.69mm | · | |
| SP 100X/0.90 WD0.44mm | · | |
| वैकल्पिक उद्देश्य लेन्स(लामो थ्रो योजना अक्रोमेटिक उद्देश्यहरू) | PL L50X/0.70 WD2.02mm | O |
| PL L 60X/0.75 WD1.34mm | O | |
| PL L 80X/0.80 WD0.96mm | O | |
| PL L 100X/0.85 WD0.4mm | O | |
| कनवर्टर | बल इनर पोजिसनिङ फोर-होल कन्भर्टर | · |
| बल भित्री स्थिति पाँच-प्वाल कनवर्टर | O | |
| फोकस गर्ने संयन्त्र | मोटे र ठीक आन्दोलन द्वारा समाक्षीय फोकस समायोजन, ठीक समायोजन मान: ०.००२ मिमी;स्ट्रोक (स्टेज सतहको फोकसबाट): 30mm।मोटे आन्दोलन र तनाव समायोज्य, लक र सीमित उपकरण संग | · |
| स्टेज | डबल-लेयर मेकानिकल मोबाइल प्रकार (आकार: 180mmX150mm, मुभिङ दायरा: 15mmX15mm) | · |
| प्रकाश प्रणाली | 6V 20W हलोजन प्रकाश, समायोज्य चमक | · |
| ध्रुवीकरण सामान | विश्लेषक समूह, polarizer समूह | O |
| रङ फिल्टर | पहेंलो फिल्टर, हरियो फिल्टर, निलो फिल्टर | · |
| मेटालोग्राफिक विश्लेषण प्रणाली | JX2016मेटालोग्राफिक विश्लेषण सफ्टवेयर, 3 मिलियन क्यामेरा उपकरण, 0.5X एडाप्टर लेन्स इन्टरफेस, माइक्रोमिटर | · |
| PC | HP व्यापार कम्प्युटर | O |
नोट: "·" मानक कन्फिगरेसन हो; "O" वैकल्पिक छ
JX2016 मेटालोग्राफिक छवि विश्लेषण सफ्टवेयर सिंहावलोकन
"व्यावसायिक मात्रात्मक मेटालोग्राफिक छवि विश्लेषण कम्प्युटर अपरेटिङ सिस्टम" मेटालोग्राफिक छवि विश्लेषण प्रणाली प्रक्रियाहरू र वास्तविक-समय तुलना, पत्ता लगाउन, मूल्याङ्कन, विश्लेषण, तथ्याङ्क र सङ्कलन नमूना नक्साहरूको आउटपुट ग्राफिक रिपोर्टहरू द्वारा कन्फिगर गरिएको।सफ्टवेयरले आजको उन्नत छवि विश्लेषण प्रविधिलाई एकीकृत गर्दछ, जुन मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोप र बौद्धिक विश्लेषण प्रविधिको उत्तम संयोजन हो।DL/DJ/ASTM, आदि)।प्रणालीमा सबै चिनियाँ इन्टरफेसहरू छन्, जुन संक्षिप्त, स्पष्ट र सञ्चालन गर्न सजिलो छ।साधारण प्रशिक्षण पछि वा निर्देशन म्यानुअलको सन्दर्भमा, तपाइँ यसलाई स्वतन्त्र रूपमा सञ्चालन गर्न सक्नुहुन्छ।र यसले मेटालोग्राफिक सामान्य ज्ञान सिक्न र अपरेशनहरू लोकप्रिय बनाउनको लागि द्रुत विधि प्रदान गर्दछ।
JX2016 मेटालोग्राफिक छवि विश्लेषण सफ्टवेयर प्रकार्यहरू
छवि सम्पादन सफ्टवेयर: दस भन्दा बढी कार्यहरू जस्तै छवि अधिग्रहण र छवि भण्डारण;
छवि सफ्टवेयर: दस भन्दा बढी प्रकार्यहरू जस्तै छवि वृद्धि, छवि ओभरले, आदि।
छवि मापन सफ्टवेयर: परिधि, क्षेत्र, र प्रतिशत सामग्री जस्ता दर्जनौं मापन कार्यहरू;
आउटपुट मोड: डाटा तालिका आउटपुट, हिस्टोग्राम आउटपुट, छवि प्रिन्ट आउटपुट।
समर्पित मेटालोग्राफिक सफ्टवेयर
अन्नको आकार मापन र मूल्याङ्कन (अनाज सीमा निकासी, अन्न सीमा पुनर्निर्माण, एकल चरण, दोहोरो चरण, अन्नको आकार मापन, मूल्याङ्कन);
गैर-धातु समावेशीहरूको मापन र मूल्याङ्कन (सल्फाइड, अक्साइड, सिलिकेट, आदि सहित);
Pearlite र ferrite सामग्री मापन र मूल्याङ्कन;डक्टाइल आयरन ग्रेफाइट नोडुलरिटी मापन र रेटिंग;
Decarburization तह, carburized तह मापन, सतह कोटिंग मोटाई मापन;
वेल्ड गहिराई मापन;
फेरिटिक र अस्टेनिटिक स्टेनलेस स्टील्सको चरण-क्षेत्र मापन;
उच्च सिलिकन एल्युमिनियम मिश्र धातु को प्राथमिक सिलिकन र eutectic सिलिकन को विश्लेषण;
टाइटेनियम मिश्र धातु सामग्री विश्लेषण ... आदि;
तुलनाको लागि लगभग 600 सामान्यतया प्रयोग हुने धातु सामग्रीहरूको मेटालोग्राफिक एटलेसहरू समावेश गर्दछ, मेटालोग्राफिक विश्लेषण र धेरै एकाइहरूको निरीक्षणको आवश्यकताहरू पूरा गर्दछ;
नयाँ सामग्री र आयातित ग्रेड सामग्रीको निरन्तर वृद्धिलाई ध्यानमा राख्दै, सफ्टवेयरमा प्रविष्ट नगरिएका सामग्री र मूल्याङ्कन मापदण्डहरू अनुकूलित र प्रविष्ट गर्न सकिन्छ।
JX2016 मेटालोग्राफिक छवि विश्लेषण सफ्टवेयर सञ्चालन चरणहरू
1. मोड्युल चयन
2. हार्डवेयर प्यारामिटर चयन
3. छवि अधिग्रहण
4. दृश्य चयनको क्षेत्र
5. मूल्याङ्कन स्तर
6. रिपोर्टहरू उत्पन्न गर्नुहोस्
