1. अप्टिकल मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोप र परमाणु बल माइक्रोस्कोपको एकीकृत डिजाइन, शक्तिशाली कार्यहरू

2. यसमा दुबै अप्टिकल माइक्रोस्कोप र परमाणु बल माइक्रोस्कोप इमेजिङ प्रकार्यहरू छन्, जुन दुवैले एकअर्कालाई असर नगरी एकै समयमा काम गर्न सक्छन्।

3. एकै समयमा, यसमा अप्टिकल द्वि-आयामी मापन र परमाणु बल माइक्रोस्कोप त्रि-आयामी मापनको कार्यहरू छन्।

4. लेजर पत्ता लगाउने टाउको र नमूना स्क्यानिङ चरण एकीकृत छन्, संरचना धेरै स्थिर छ, र विरोधी हस्तक्षेप बलियो छ

5. प्रेसिजन प्रोब स्थिति उपकरण, लेजर स्थान पङ्क्तिबद्ध समायोजन धेरै सजिलो छ

6. एकल-अक्ष ड्राइभ नमूना स्वचालित रूपमा ठाडो रूपमा जाँचमा पुग्छ, ताकि सुईको टिप नमूनामा लम्बवत स्क्यान गरिन्छ।

7. मोटर-नियन्त्रित प्रेसराइज्ड पिजोइलेक्ट्रिक सिरेमिक स्वचालित पत्ता लगाउने बुद्धिमान सुई खुवाउने विधिले प्रोब र नमूनालाई सुरक्षित गर्दछ।

8. अल्ट्रा-उच्च म्याग्निफिकेसन अप्टिकल पोजिसनिङ सिस्टम प्रोब र नमूना स्क्यानिङ क्षेत्रको सटीक स्थिति प्राप्त गर्न

9. एकीकृत स्क्यानर ननलाइनर सुधार प्रयोगकर्ता सम्पादक, न्यानोमिटर विशेषता र मापन शुद्धता 98% भन्दा राम्रो

निर्दिष्टीकरण: